测量金属基体的涂层测厚仪其测量原理一般有磁性法和涡流法，而测量手机壳上的镀层厚度（这里所说的是指金属基体上的镀层的厚度）一般都是用的是涡流测厚法。使用漆膜测厚仪（https://www.linshangtech.cn/applist2/）测量手机镀层的厚度过程中，应尽量保证专人专用和保管仪器。这是因为长期让高精度的涂层测厚仪处于工作状态可能会加快仪器的损坏程度，也会使最终的测量结果异常。
林上LS220H漆膜测厚仪参数：
测量原理 Fe:霍尔效应 / NFe:电涡流
测量范围 0.0-2000μm
分辨率 0.1μm:(0μm-99.9μm)
0.01mm:(1.00mm-2.00mm)
测量精度 ≤±(3%读数+2μm)
单位 μm / mil
最小测量区域 Ø = 25mm
最小基体厚度 Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
显示 128×48点阵LCD
供电方式 2节 1.5V AAA碱性电池
工作温度范围 0℃-50℃
存储温度范围 -20℃-60℃
主机尺寸 101*62*28 mm
测量手机镀层的厚度我们一般使用林上LS220H漆膜测厚仪。这款仪器为侧头与主机一体式的设计，测量数据块测试数据精准。0.5秒即可完成一次测量。而且测，探头采用先进的数字探头可以长时间保持零位稳定不漂移。在同一个位置可以反复测量数据稳定。
在漆膜测厚仪工作时也要保持环境的稳定，减少磁场和人为因素的影响。不随意拆卸仪器，减少仪器受外物腐蚀的情况。定时对漆膜测厚仪进行检测，出现故障时要及时送回厂家进行维修，才能保持漆膜测厚仪的正常使用寿命和准确的测量结果。