低温霍尔效应测量磁场应用 KANG Static Insert SN 150
上海伯东代理英国 NanoMagnetics 仪器霍尔效应测量系统为 Van der Pauw 和 Hall Bar 测量提供了一个创新的解决方案. 可用于测量半导体材料的载流子浓度, 迁移率, 电阻率, 霍尔系数, 导电类型等重要参数, 是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性的必备工具.
如下是某知名大学低温霍尔效应测量案例
1. 测试样品: NMI 标准样品, P15-A
2. 应用电流 1e- 4a
3. VDP 测量的外加磁场为 1T
4. 在 1.5K 时, 磁场扫描 为 0 - 5T - 0 循环
霍尔效应测试仪器
英国 NanoMagnetics 霍尔效应测试仪 支持 Van der Pauw 和 Hall bar 成形试样 |
英国 NanoMagnetics 霍尔效应测量系统, 电阻测量结果
300K 时 电阻测量结果 |
电阻温度图 |
|
ContactLead |
Resistance [Ohm] |
|
1-2-1-2 |
3.62E +03 |
|
3-4-3-4 |
3.62E +03 |
|
1-3-1-3 |
3.87E +03 |
|
2-4-2-4 |
3.93E +03 |
|
*1-2 和 3-4 电阻几乎相同. 1-3 和2-4 ( 对角线 ) 电阻几乎相同 |
冷却和加热图显示了相同的结果, 因此, 塞诺克斯传感器和样品根据静态插入的位置是合适的, 否则图就不一样了. 此外,测量结果是可重复的. [I+I-V+V-] 触点引线为 [1-2-4-3] |
在 1.5K 时霍尔效应 Van der Pauw 测量结果
接触头 [I+I-V+V-] |
电阻率 [Ohm.cm] |
Sh.电阻 [Ohm/sq] |
Carr.Density [/cc] |
HallCoeff. [cc/C] |
Mobility [cm^2/(V.s)] |
CarrType [+/-] |
1-2-3-4 |
3.54E - 04 |
3.54E + 02 |
6.00E + 17 |
1.04E + 01 |
2.94E + 04 |
-1.00E +00 |
2-3-4-1 |
3.54E - 04 |
3.54E + 02 |
6.00E + 17 |
1.04E + 01 |
2.94E + 04 |
-1.00E +00 |
电阻磁场图
霍尔系数 - 温度图
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