广东韦斯实验设备有限公司

高低温冲击试验箱又名冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性快速温度变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

两箱式冷热冲击试验箱技术参数：℃

内箱尺寸：深×高×宽500×600×500mm (或指定) .

试验槽温度使用范围:－65℃-- 150℃(或指定).

高温槽温度设定范围:＋60℃-- ＋170℃.

高温槽升温时间RT（室温）-- ＋150℃约需30min（室温在＋10-- ＋30℃时）.

低温槽温度设定范围:－70℃-- －10℃.

低温槽降温时间RT（室温）-- -50℃约需70min（室温在＋10-- ＋30℃时）.

温度波动度:±1.0℃.

温度均匀度:±2.0℃.

冲击归复时间：－65-- ＋150℃ 约需 5min

高低温冲击试验机结构：

    二箱吊篮式结构，上部为高温箱，下部为低温箱,冲击方式采用高温箱,低温箱静止, 试料部件通过上下移动之吊拦快速移动到高、低温箱内,从而实现冷热冲击测试目的.

    可独立当作高温箱或低温箱使用,一机三用.

    采用微电脑可程控+PID+SSR，进口触摸式控制器。

    特殊之水平式循环方式，搭配测试架转台设计，以达到测试物品之受温、风量之均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生的安全隐患，保证设备的长期可靠性

具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，完全有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.

    出风口于回风口感知器检测控制，吊拦移动时间为15秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成

    可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可选择冷冲、热冲进行冲击,可设定循环次数及除霜次数进行自动(手动) 除霜.

    运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故 障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置.

    冷冻系统采用复叠高效低温回路系统设计，冷冻机组采用法国原装进口压缩机。

超强安全保护功能：电源过载保护、漏电保护、控制系统过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。

以上为高低温冲击试验箱的简单介绍，若需了解更详细的冷热冲击试验箱价格资料请联系我们，我们将竭诚为您服务！

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