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深圳林上科技有限公司

太阳膜测量,光学透过率,紫外线测量,光泽涂层测量

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林上镀层测厚仪影响因素介绍
发布时间:2020-06-12 10:48        浏览次数:90        返回列表
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品牌:林上科技
分辨率::0.1μm:(0μm-99.9μm)
探头类型:内置一体式
丈量精度:≤±(3%读数+2μm)
单价:1113.00元/台
最小起订量:1 台
供货总量:1000 台
发货期限:自买家付款之日起 3 天内发货
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详细介绍

市面上的镀层测厚仪价格https://www.linshangtech.cn/product/LS221.html)各不相同,导致产品差异也存在不同差异。以下咱们就林上镀层测厚仪做一个简略的介绍。在实际操作中不仅仅简略便利快速,并且呈现出来的数值也非常精准。磁感应和电涡流两种原理是绝大多数镀层测厚仪所应用的基本原理,能够广泛的丈量各种基材各种性质镀层的厚度。

林上镀层测厚仪参数:

丈量原理:Fe:霍尔效应 / NFe:电涡流

探头类型:内置一体式

丈量规模:0.0-2000μm

分辨率:0.1μm:(0μm-99.9μm)

1μm:(100μm-999μm)

0.01mm:(1.00mm-2.00mm)

丈量精度:≤±(3%读数+2μm)

单位:μm / mil

丈量间隔:0.5s

丈量区域:Ø = 25mm

曲率半径:凸面:5mm/凹面:25mm

基体厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

显现:128×48点阵LCD

供电办法:2节 1.5V AAA碱性电池

工作温度规模:0℃-50℃

存储温度规模:-20℃-60℃

主机尺寸:101*62*28 mm

分量(含电池):79g

镀层测厚仪在不同环境下影响要素

(1)选用磁性法测厚时会受基体金属磁性变化的影响

(2)基体金属的电导率对丈量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理办法有关。

(3)镀层测厚仪有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,丈量就不受基体金属厚度的影响。

(4)镀层测厚仪对试件外表形状的陡变敏感。因此在靠近试件边际或内转角处进行丈量是不可靠的。   

(5)待测物品的曲率对丈量有影响。这种影响总是随着曲率半径的削减显着增大。因此,在曲折试件的外表上丈量镀膜厚度是不可靠的。

2.丈量物品差异影响要素

外表粗糙度基体金属和覆盖层的外表粗糙程度对丈量有影响。粗糙程度增大,影响增大。

 


林上镀层测厚仪影响因素介绍
网址:http://www.shangtaiw.com/b2b/linksun2008/sell/itemid-94217.html
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