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供应产品 HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪
发布时间：2021-04-28 11:15 浏览次数：53 返回列表
详细介绍 HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.1μs到20ms,电阻率量程为>0.1Ω.cm,,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业不可多得的测量仪器。 HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪 网址:http://www.shangtaiw.com/b2b/henergysolar/sell/itemid-94217.html |
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