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NCS-R80 无接触厚度电阻率测试仪是一款用于硅片的厚度、电阻率测量的专业仪器，该仪器适用于Si，GaAs，InP，Ge等几乎所有的材料，所有的设计都符合ASTM(美国材料实验协会)和Semi标准，确保与其他工艺仪器的兼容与统一。
特征
电阻率和厚度同时测量
电脑触摸屏显示
强大的工控机控制和大屏幕显示
为晶圆硅片关键生产工艺提供精确的无接触测量
无接触厚度电阻率测试仪
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